光學測量系統的分析與公差(2) - 訊技光電科技(上海)有限公司

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光學測量系統的分析與公差(2)

時間:2016-08-13 17:35來源:訊技光電作者: 技術部點擊:次打印

測量系統(MSY.0003 v1.1)

Czerny-Turner單色儀&光譜儀的仿真

應用示例簡述

1. 系統說明

 光源

— 參考平面波(單色)

— 鈉燈(具有鈉的雙重特性)

 組件

— 光闌(狹縫)，拋物面反射鏡，閃耀光柵

 探測器

— 功率

— 視覺評估

 建模/設計

— 光線追跡：初始系統概覽

— 幾何場追跡+(GFT+)：

 窄帶單色儀系統的仿真

 為解決特定光譜曲線進行全光譜的高分辨率分析

2. 系統說明

3. 系統參數

4. 建模/設計結果

總結

Czerny-Turner單色儀的實現與分析及其在光譜研究中的應用。

1. 仿真

以光線追跡對單色儀核校。

2. 研究

應用經典場追跡和幾何場追跡+引擎對系統的性能進行研究。系統分析中包括采用傅里葉模態法進行光柵效率的嚴格分析。

3. 應用

應用現實的Czerny-Turner單色儀分辨了鈉燈的雙波長特性

可以通過使用VirtualLab對復雜的光譜系統,比如Czerny-Turner進行詳盡的研究。

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