準直系統中鬼像效應的研究

摘要 

仿真技術的主要作用之一是提供一個平臺，以便在系統制造之前研究系統的性能，以便盡可能多地預防潛在的缺陷。雜散光是影響系統性能的最常見現象之一，雜散光可能有多個來源，其中包括系統中的內部偽反射。在這個用例中，我們分析了高Na激光二極管準直透鏡系統中這種反射的存在，我們模擬了產生的鬼像對探測場的影響(由主準直光束的干涉引起的同心環圖案和由雜散光產生的二次發散)，并確定需要在透鏡系統的關鍵表面上涂上抗反射涂層。

 

 

建模任務

 

 

準直系統

 

 

非序列追跡

 

總結—元件…

 

 

系統光線追跡結果

 

 

完美的減反射(AR)涂層

 

 

有內部反射

 

文件信息

 

進一步閱讀
• Modeling of Etalon with Planar or Curved Surfaces

• Channel Setting for Non-Sequential Tracing